超声扫描显微镜有哪些扫描模式？

相信不少小伙伴在了解超声扫描显微镜时都会看到A扫、B扫、C扫等方法，那么这些扫描模式都有哪些区别呢？今天和伍智造营小编来带你认识一下这三种模式分别有哪些特点。

A-Scan模式

A扫描是指维持水平方向位置固定不动，检测深度方向上的反射信号。将波形显示在屏幕上，波形的横轴为时间（可以换算成深度），纵轴为反射信号强度。

A扫描模式主要用于寻找缺陷信号，以及对焦操作。

（a）A扫描原理          

（b）A扫描典型波形

图 A扫描原理

 B-Scan模式

B扫描是指检测垂直方向的二维截面图。图形的横轴为水平方向，纵轴为深度方向，像素点的灰度或彩色为信号强度。

B扫描模式主要用于分析缺陷的深度和多层材料的内部缺陷。

（a）B扫描原理            

（b）B扫描典型图像

图 B扫描原理

C-Scan模式

C扫描是检测水平方向的二维截面图，深度方向保持不变。图形的横轴和纵轴都是水平方向，像素点的灰度或彩色为信号强度。

C扫描模式主要用于水平平面的缺陷状态。

（a）C扫描原理         

（b）C扫描典型图像

图C扫描原理

超声显微镜/超声C扫描系统的常用检测模式

适用于超声扫描显微镜/超声C扫描系统的缺陷工件通常都是平面形状的，因此主要使用A扫描模式和C扫描模式，通常不需要使用B扫描模式。

为了全面检测工件缺陷界面的状态，超声检测设备沿着蛇形轨迹，对缺陷界面逐点扫描。将所有反射回波信号合并，得到一张高分辨率的超声C扫描图像。